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HPS58003薄膜方阻四探針測試探頭
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 HPS58003薄膜方阻四探針測試探頭

             HPS58003四探針探頭是一款專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),塑料薄膜、金屬薄膜、金屬鍍層等同類物質的薄層電阻。

           帶彈簧測試探頭, 接觸可靠, 工作穩定, . 使用時只要把探頭輕輕壓在被測鍍膜上面,   無需任何調節,最新款方阻儀用5芯專用插座代替原有的香蕉插座,使得線纜不易折損,探頭的使用壽命極大延長。

 

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